直接回答
长期温区和结构条件影响稳定性，超温后需复验。
过温可能改变元件特性，恢复室温读数不证明高温曲线不变。
判断依据与适用条件
感应部位、电子和外露连接可能处于不同温度，需分别核对。长期稳定和快速热冲击也是不同条件；若异常只在升降温时出现，应保存全过程趋势，不能只在冷态室温验证后就排除温度因素。
在热电阻中，本题的检查对象是高温漂移。需要取得的证据是：保存最高温历史与复校结果。材料老化与热场位置共同影响高温结果，室温通断试验主要检查电路连续性。复验应保留使用区段、温区、气氛和插入位置；若抽动探杆后关系改变，要区分温场改变和材料不均匀。不能仅因恢复室温读数就认定高温曲线及寿命未受影响。
针对本题怎样核查
- 先检查历史温度和校准变化。记录元件电阻、输入线制与温度，标明其中哪些是本次实际取得的，未提供的诊断或功能不得当作本机已有能力。
- 把高温漂移对应的最低、常用和最不利状态列成表，注明持续时间及数据来源。
- 围绕“保存最高温历史与复校结果”建立前后对照，参照应适用于当前对象及条件。比较期间保留高温漂移的原配置及工艺状态，一次只处理已有证据指向的因素。
假设案例：如何作出判断
考虑“短时过温后仍沿用原校准结论”这一现场疑问。假设经历一次超温后零点正常，仍应按用途复核关键工作温区。
先把当前条件与原选型条件对照。
确认结果与交付记录
这道题的结果应回到“高温漂移”：结论旁写出支持它的保存最高温历史与复校结果，并注明实际覆盖的状态、参照依据与仍待确认项目。报告保留高温漂移的原始记录和配置，不能把输出端的一次模拟签成未实际覆盖环节的通过。
案例为教学假设；限值及作业条件按实际型号和现场规程。参考文献不替代道威斯顿供货规格或认证。
